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掃描離子電導顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術, SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息,并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。
掃描離子電導顯微鏡SICM(Scanning Ion Conductance Microscopy, SICM)
1、探針是一根中空的超微玻璃管,針尖為錐形,針尖內徑約幾十到幾百納米;
2、在探針內外均灌有電解質溶液,并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流;
3、當針尖與樣品距離較遠時,電流值的大小保持恒定,而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時,狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過,離子電流急速減小;
4、根據探針/樣品間距離與離子電流的關系,一個設定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離,讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描,控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離,掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。
在 SICM 中,測量了微量移液管內的一個準參考對電極 (QRCE) 和本體溶液中的一個之間的離子電導電流。 基材浸入電解液中。 在接近表面時,由于微量移液器開口和表面之間的擴散受阻,離子電導電流降低。 這允許非接觸式高分辨率地形成像。
SICM探針是一根中空的超微玻璃管,針尖為錐形,針尖內徑約幾十到幾百納米;
在探針內外均灌有電解質溶液,并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流
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